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GB/T 15656-1995 超扭曲向列型液晶显示器件 空白详细规范

时间:2024-04-29 07:54:47 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9262
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基本信息
标准名称:超扭曲向列型液晶显示器件 空白详细规范
英文名称:Blank detail specification of supertwiste nematic liquid crystal display devices
中标分类:
ICS分类: 电子学 >> 电子显示器件
替代情况:作废;
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1995-07-24
实施日期:1996-04-01
首发日期:1995-07-24
作废日期:2005-10-14
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:信息产业部(电子)
起草单位:国营曙光电子管厂
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:7, 字数:10千字
适用范围

本空白详细规范与GB/T 15655《超扭曲向列型液晶显示器件分规范》一起使用。它规定了详细规范采用的格式和包括的内容。

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所属分类: 电子学 电子显示器件
基本信息
标准名称:半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种
英文名称:Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of PCM coder-decoders
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
替代情况:作废;
发布部门: 信息产业部(电子)
发布日期:1992-01-02
实施日期:1993-08-01
首发日期:1992-12-17
作废日期:2005-10-14
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:上海无线电十四厂
出版日期:1900-01-01
页数:10页
适用范围

本标准规定了半导体集成电路脉码调制编译码(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学
【英文标准名称】:Capabilityofdetection-Part2:Methodologyinthelinearcalibrationcase
【原文标准名称】:检测能力第2部分:线性校准方法
【标准号】:ISO11843-2-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC69
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:社会;测量特征;方法论;质量控制;统计学;工艺学;概率计算;污染控制;数据分析;误差;校正;定义;定义;分析;测量仪器;术语;解释;统计方法分析;验证;数据;质量管理;医学科学;线性的;检测;方法;系统论
【英文主题词】:Analysis;Calibration;Data;Dataanalysis;Definitions;Detection;Deviations;Errors;Interpretations;Linear;Measurement;Measurementcharacteristics;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Medicalsciences;Methodologies;Methods;Multilingual;Pollutioncontrol;Probabilitycalculations;Qualitycontrol;Qualitymanagement;Regressionanalysis;Society;Statisticalmethodsofanalysis;Statistics;Status;Stochastics;Systemology;Technology;Terminology;Verification
【摘要】:ThispartofISO11843specifiesbasicmethodsto:—designexperimentsfortheestimationofthecriticalvalueofthenetstatevariable,thecriticalvalueoftheresponsevariableandtheminimumdetectablevalueofthenetstatevariable,—estimatethesecharacteristicsfromexperimentaldataforthecasesinwhichthecalibrationfunctionislinearandthestandarddeviationiseitherconstantorlinearlyrelatedtothenetstatevariable.ThemethodsdescribedinthispartofISO11843areapplicabletovarioussituationssuchascheckingtheexistenceofacertainsubstanceinamaterial,theemissionofenergyfromsamplesorplants,orthegeometricchangeinstaticsystemsunderdistortion.Criticalvaluescanbederivedfromanactualmeasurementseriessoastoassesstheunknownstatesofsystemsincludedintheseries,whereastheminimumdetectablevalueofthenetstatevariableasacharacteristicofthemeasurementmethodservesfortheselectionofappropriatemeasurementprocesses.Inordertocharacterizeameasurementprocess,alaboratoryorthemeasurementmethod,theminimumdetectablevaluecanbestatedifappropriatedataareavailableforeachrelevantlevel,i.e.ameasurementseries,ameasurementprocess,alaboratoryorameasurementmethod.Theminimumdetectablevaluesmaybedifferentforameasurementseries,ameasurementprocess,alaboratoryorthemeasurementmethod.ISO11843isapplicabletoquantitiesmeasuredonscalesthatarefundamentallycontinuous.Itisapplicabletomeasurementprocessesandtypesofmeasurementequipmentwherethefunctionalrelationshipbetweentheexpectedvalueoftheresponsevariableandthevalueofthestatevariableisdescribedbyacalibrationfunction.IftheresponsevariableorthestatevariableisavectorialquantitythemethodsofISO11843areapplicableseparatelytothecomponentsofthevectorsorfunctionsofthecomponents.
【中国标准分类号】:A00
【国际标准分类号】:17_020
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语